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德國A.S. & Co. Spectravision紫外可見近紅外全光譜顯微分光光度計

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◆  產品詳情

 

簡介︰

最新的A.S & Co產品系列SpectraVision 4,軟件模塊包含多種硬件控制,如PMT,光譜儀,成像攝像頭,光源燈;可以完成標準設置的測試分析,也可以進行客戶自定義的獨立研究分析。SpectraVision 4進行反射率測量是通過選擇PMT或者CCD探測器完成的,可根據客戶需要進行靈活配置。探測器直接耦合在光路中,不需要光纖連接,能夠達到最優的信號接收品質。可選制冷循環系統,可以極大提高信噪比(S/N)。

產品概述和特點

SpectraVision 4成像模塊是一種新開發的工具,能夠幫助鏡質體的測量。基于現代成像系統的12-16bit動態范圍視頻攝像頭探測器,得到原始的成像圖片。同時能夠記錄下測量位置的信息。可應用到特殊領域,如焦化廠煤質分析。快速給出煤品質和顆粒度等計算信息,提供最優的煤階配比。成像顯示樣品形貌和測量位置,同時給出直方圖信息。基于電動控制載物臺的系統,可以自動掃描樣品,自動分析測試結果,輸出測試報告。

SpectraVision 4可以在一套軟件中根據用戶的實際需要,提供多種獨立和功能強大的應用模塊。系統可以進行標準化的鏡質體反射率測量,同時也可進行精密、復雜的樣品探測,完成反射,透射,熒光光譜分析。

SpectraVision 4地質和有機巖相學應用主要特點

?  鏡質體反射率

?  多種有機質成分分布

?  偏振模式

?  顯微熒光光譜

?  成熟度研究

?  色域分析

?  鏡質體反射率和熒光光譜相關研究

?  自動成像和工業、巖相學圖像測量

?  波長精度定標和信號強度動態范圍檢測

?  自動感測和熒光標定

SpectraVision 4系統特點

?  標準546nm波長反射率測量;

?  計算直方圖符合DIN/ISO 標準;

?  測量結果符合GB/T12937-2008GB/T 8899-2013GB/T 15590-2008標準所需測量要求。

?  統計參數如平均值,標準偏差;

?  多組分分布測量。

根據顯微鏡能力,SpectraVision 4具有的功能

?  明場、暗場透射模式;

?  明場、暗場反射模式;

?  偏振模式;

?  熒光模式;

?  三維模擬成像。

 

 1顯微鏡光照下圖形

2通過circular-difference-interference-contrast(循環微分干涉對比)技術,使得三維微觀結構可視化

技術參數

光譜范圍

220-2100nm

熒光激發

360-546nm

光源

高效能氘鹵復合光源或氙燈

采樣面積

<1um2

光譜分辨率

0.8nm

探測器

TE制冷CCD+InGaAs陣列探測器

像素尺寸

24umx24um

積分時間

0-60s

成像

500萬像素

操作系統

Windows7Windows8Windows10

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